Рентгеновские лучи заглядывают под поверхность

        Новый микроскоп, созданный группой под руководством Цзяньвэй Мяо (Jianwei Miao) из Стэнфордского университета, обладает пространственным разрешением порядка 8 нанометров. Однако в перспективе, при использовании более мощного рентгеновского источника либо путем увеличения времени экспозиции, с его помощью станет возможно добраться до атомного масштаба расстояний.
        Уже известно несколько способов, позволяющих получить изображения отдельных атомов, однако у каждого из них свои ограничения. Трансмиссионные электронные микроскопы позволяют видеть отдельные атомы только в образцах, имеющих толщину порядка 50 нанометров. Сканирующие микроскопы могут видеть атомы только на поверхности вещества.
        Кристаллографические технологии позволяют с помощью дифракционных методов получать изображения трехмерной структуры объекта, однако только для кристаллов.
        Группа г-на Мяо предложила использовать методику, представляющую собой синтез собственно микроскопии и дифракционной техники. В ней используется источник когерентного рентгеновского излучения, пучок которого падает на исследуемый образец. Для построения изображения производится анализ дифракционной картины отраженного пучка. Благодаря тому, что рентгеновское излучение падает на чрезвычайно малый участок поверхности, отраженное излучение несет информацию только о данной локальной области, а не о всей структуре образца, как при кристаллографии.
        В настоящее время микроскоп Мяо позволяет получать двумерные изображения объекта с разрешением порядка 8 нанометров и трехмерные - с разрешением 50 нанометров.